我们为电子行业，涵盖计算机、集成电路、半导体芯片、光纤通讯、移动通讯、卫星通信以及家电提供专业的测量方案。
近年来，随着大国之间竞争激烈，各国在半导体电子行业加大投入研发，抢占市场份额。在此背景下，在半导体芯片封装领域加大研发，对微小尺寸检测领域需求提出了苛刻要求，现有检测设备精度已无法满足。
零斯精密成立微小尺寸检测实验室，采用高精度自动影像测量仪来进行尺寸测量验证，从而提升公司在研发阶段对微小尺寸测量的可靠性，助力公司在行业内形成标杆。
由于电路板发展迅速，其种类和要求变得更多样复杂，电子产品的研发周期变得更短，这要求PCB厂家能够快速提供样品，实现快速打样。如何在小批量PCB打样时实现快速测量，以及满足多样化要求测量是很多企业面临的问题。
通过丰富的配置以及高精度的测量能力，实现印刷电路板在打样时，能够快速测量出管控尺寸，以及在产品多样，要求复杂时，能够覆盖测量需求。
我们提供高精度型复合式影像测量仪，以远超同行业的1.0μm测量精度推出市场，为企业快捷提供了高性能的测量工具。ULTRA QV 404配置了变焦双CCD技术，放大缩小画面不需要机械变倍，只需要光路的转换即可。另外，还配置了1X，2X和6放大倍率转换系统，实现低倍率到超高倍率的覆盖，常规尺寸测量时使用中低放大倍率，如果要测量线宽或者上下幅等，可以选用高倍率。
