MX-IR/BX-IR 红外显微镜——可观察 IC 内部的近红外（IR）观察专用机型。
可搭载在可见光到近红外范围内都进行了像差补正的 IR 专用物镜，可轻松地观察 IC 内部。根据样品的大小与用途，用户可选择 MX 或 BX 系列产品。
● 可以实现以非破坏的方式观察半导体器件内部。
● 可适用明场、近红外观察。
MX-IR/BX-IR 红外显微镜——可观察 IC 内部的近红外（IR）观察专用机型。
可搭载在可见光到近红外范围内都进行了像差补正的 IR 专用物镜，可轻松地观察 IC 内部。根据样品的大小与用途，用户可选择 MX 或 BX 系列产品。
● 可以实现以非破坏的方式观察半导体器件内部。
● 可适用明场、近红外观察。
